ビトネスがお勧めするブルカー製ハンドヘルドXRF元素分析装置は、①高感度検出器を備え、②検量線方式での測定、が、特長です。
高感度検出器により測定時間が相対的に短くて済みバッテリーの持ちもよくなります。
検量線方式での測定により「面倒な使用前のゼロ点補正的操作」が不要であり、またFP法機材よりも本体CPU負荷が小さいため連続測定による熱暴走（機能停止）に陥る頻度が極めて小さいです。そしてユーザー定義の検量線を作成できるオプションを用意しております。
１. 金属スクラップの分別（製品：S1TITAN）
日本でも世界でも約半数のハンドヘルドXRF元素分析は金属スクラップの分別に使用されています。ブルカー製品は日本ではマイナーですが世界中で採用され続けている信用性が高い製品です。特に検出器が壊れない構造となっていることが特長です。
２. 金属合金の種別判別（製品：S1TITAN）
金属スクラップ分別以外の用途で最も多いのが合金種別判別です。機械部品などの材質判別（PMI）です。大きな機械の構造材質の検査などにも採用されています。鋳造物の分析にも採用されています。
３. 考古学、美術、博物、埋蔵文化財研究での利用（製品：TRACER，S1TITAN）
特にTRACERは世界的に実質的な標準機材です。世界中の研究者はTRACERで実測したデータを論文に採用しています。
TRACERよりも感度が若干低下しますがS1TITANも採用されています。
４. 液体、粉体、土壌の分析（製品：CTX，S1TITAN）
CTXは船舶燃料中の硫黄成分を分析するために開発されたようですが、そのような用途に限定せずに使用できます。日本ではRPF品質検査、貴金属仲介業者様への納入実績がございます。
５. その他（製品：S1TITAN，TRACER，CTX）
日本および判明している外国の納入実績の一部として次の用途を挙げます。
・焼却灰中の重金属含有量分析
・フッ素系加工材のフッ素系高分子剥離状況の分析（フッ素含有量の測定）
・RPFの品質検査（塩素含有3000ppm以下の判定）
・半導体製造装置の洗浄後残留元素の分析、判別（台湾にて）
・宝石種別の判定（鉱物中の特定元素含有量の分析）
・接地面積が小さいということで日本では貴金属商社様の店頭や分析室で採用されています。（金、銀、プラチナなど貴金属の正確な含有量測定と、ロジウム、パラジウム、イリジウム、ルテニウム、オスミウムなどとの区別、分析）
・土壌分析（ドリルコア中の含有元素分析）
６. メーカーが提供するアプリケーション
数多くのアプリケーションを用意しておりますので、お問い合わせください。
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